民國109年 第3梯次 鑄造乙級 學科
第13題
下列何者可用來檢查鑄件內部缺陷
題目
下列何者可用來檢查鑄件內部缺陷
- (1) X 光檢驗
- (2) 螢光探傷
- (3) 磁粒探傷
- (4) 金相顯微鏡
官方答案
(1) X 光檢驗
解析
X光檢驗利用X射線穿透鑄件，內部縮孔、氣孔、夾渣或裂紋等缺陷對射線的吸收率與健全材不同，會在底片或影像上形成明暗對比，因此可判讀內部缺陷。螢光探傷與磁粒探傷主要偵測表面或近表面缺陷；金相顯微鏡用於觀察材料組織，無法檢查內部體積缺陷。所以檢查鑄件內部缺陷應選X光檢驗。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。