民國106年 第2梯次 機械加工乙級 學科
第57題
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
題目
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
- (1) 外徑分厘卡
- (2) 深度分厘卡
- (3) 卡式內徑分厘卡
- (4) 直桿式內徑分厘卡
官方答案
(3) 卡式內徑分厘卡
解析
亞培原理要求量測軸線與刻度尺軸線共線；若兩者偏置，工件或量具稍有傾斜，讀值就會產生與傾斜量成正比、且被力臂放大的誤差。卡式內徑分厘卡的量測爪與測微螺桿軸線不在同一直線上，呈偏置構造，故最易產生亞培誤差。外徑分厘卡的砧座與主軸同軸，刻度也沿同軸配置；直桿式內徑分厘卡以延伸桿沿孔軸量測，量測方向與螺桿軸線一致；深度分厘卡的量測桿與尺筒同軸，三者誤差較小。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。