民國103年 第3梯次 網版製版印刷乙級 學科

第66題

膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?

題目

膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?

  1. (1) 測試器操作時能歸零即可
  2. (2) 細砂紙磨去鐵銹
  3. (3) 並不影響量測
  4. (4) 應重新更換測試針頭

官方答案

(4) 應重新更換測試針頭

官方資料