民國106年 第1梯次 網版製版印刷乙級 學科

第11題

膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?

題目

膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?

  1. (1) 並不影響量測
  2. (2) 測試器操作時能歸零即可
  3. (3) 應重新更換測試針頭
  4. (4) 細砂紙磨去鐵銹

官方答案

(3) 應重新更換測試針頭

解析

膜厚測試器的探針(測頭)生鏽後,接觸面的曲率與間隙改變,量測信號會偏移、讀值失真,鏽斑也可能刮傷被測墨膜或基材。歸零只能在乾淨、已知基準下補償零點漂移,無法修正鏽蝕造成的幾何誤差與接觸不良,所以「歸零即可」不成立。用細砂紙研磨會破壞探針原有的球面精度,使誤差更大。正確作法為更換新的探針頭並重新校正。

AI 參考解析(推得答案已與官方答案比對一致),非官方公告內容,僅供備考參考。

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