民國113年 第3梯次 網版製版印刷乙級 學科
第32題
膜厚測試器探測針頭生銹,下列敘述何者正確?
題目
膜厚測試器探測針頭生銹,下列敘述何者正確?
- (1) 應重新更換測試針頭
- (2) 測試器操作時能歸零即可
- (3) 並不影響量測
- (4) 細砂紙磨去鐵銹
官方答案
(1) 應重新更換測試針頭
解析
膜厚測試器的探測針頭屬於精密量測元件，生鏽後針尖形狀與尺寸改變，會使與被測表面的接觸位置及基準面偏移，導致讀值失準，甚至刮傷膜面或試片。正確做法是更換新的測試針頭，並重新校正後再使用。僅在操作時歸零無法修正針頭幾何形狀已改變的誤差；鏽蝕也不會因歸零而消失，更不能視為不影響量測；用細砂紙研磨會破壞針尖的精度與表面粗糙度，使量測更不準確。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。