民國100年 第3梯次 電腦輔助機械設計製圖乙級 學科
第55題
分厘卡的砧座測量面之平面度校正可用
題目
分厘卡的砧座測量面之平面度校正可用
- (1) 規矩塊
- (2) 角度規
- (3) 光學平鏡
- (4) 標準棒
官方答案
(3) 光學平鏡
解析
光學平鏡（光學平板）是將平面度極高的透明平板貼近被測面，利用單色光在兩面間隙產生的干涉條紋來判斷平面度：條紋筆直且間距均勻，代表面良好；條紋彎曲則表示該處有高低差。分厘卡砧座測量面的平面度校正，就是以這種方式檢驗。規矩塊用於尺寸與長度校正，角度規用於量測角度，標準棒則用於檢查分厘卡全行程的讀值誤差，都不能直接檢出測量面的平面度。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。