民國106年 第1梯次 化學性因子作業環境監測甲級 學科
第74題
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
題目
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
- (1) 以位相差顯微鏡定量
- (2) 以原子吸收光譜儀定量
- (3) 以X 光繞射分析儀定性
- (4) 以X 光繞射分析儀定量
官方答案
(3) 以X 光繞射分析儀定性、(4) 以X 光繞射分析儀定量
解析
依我國勞工作業環境空氣中有害物採樣分析建議方法，結晶型二氧化矽（如石英、方矽石、鱗矽石）樣品之定性與定量分析，主要採用X光繞射分析儀（XRD）或紅外線光譜儀（FTIR），因XRD能依其特有的晶體晶相繞射角進行專一性定性鑑定，並以特定繞射峰強度進行定量分析，故選項3與選項4正確。位相差顯微鏡（PCM）主要用於石綿纖維之計數，無法分析結晶型二氧化矽；原子吸收光譜儀（AAS）用於金屬元素分析，無法區分二氧化矽是結晶型還是無定形結構，故選項1與2錯誤。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。