民國106年 第3梯次 化學性因子作業環境監測甲級 學科
第80題
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
題目
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
- (1) 以位相差顯微鏡定量
- (2) 以原子吸收光譜儀定量
- (3) 以X 光繞射分析儀定量
- (4) 以X 光繞射分析儀定性
官方答案
(3) 以X 光繞射分析儀定量、(4) 以X 光繞射分析儀定性
解析
結晶型二氧化矽（如石英、方矽石）之結晶構造特定，依標準分析方法（如NIOSH 7500法），主要利用X光繞射分析儀（XRD）或紅外線光譜儀（FTIR）進行定性鑑別與定量分析。XRD能依繞射角晶面間距定性，並依繞射尖峰強度進行定量。位相差顯微鏡(1)主要用於石綿纖維計數，無法分析二氧化矽；原子吸收光譜儀(2)則用於元素金屬分析。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。