民國114年 第1梯次 化學性因子作業環境監測甲級 學科
第75題
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
題目
結晶型二氧化矽樣本分析,下列敘述何者正確?
- (1) 以原子吸收光譜儀定量
- (2) 以位相差顯微鏡定量
- (3) 以X 光繞射分析儀定量
- (4) 以X 光繞射分析儀定性
官方答案
(3) 以X 光繞射分析儀定量、(4) 以X 光繞射分析儀定性
解析
作業環境空氣中結晶型游離二氧化矽（如石英、方矽石、鱗矽石）具有規則的晶體結構。在分析方法上，X光繞射分析儀（XRD）及傅立葉轉換紅外光譜儀（FTIR）為最常使用的定性與定量分析儀器，其中XRD可藉由特定繞射角（2θ）確認晶型結構進行定性，並依特定波峰之繞射強度進行定量分析。(1)原子吸收光譜儀（AAS）係用於金屬元素分析，無法區分化學元素是處於無定型或結晶型形態；(2)位相差顯微鏡（PCM）主要用於石綿及人造玻璃纖維等纖維狀粒狀有害物之計數，無法用以分析二氧化矽。故選項3、4正確。
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