在正子電腦斷層造影儀中，下列何種方法可以減少互毀光子與偵檢器的作用深度效應effect）影響？

題目

在正子電腦斷層造影儀中，下列何種方法可以減少互毀光子與偵檢器的作用深度效應effect）影響？ A. 使用電腦斷層掃描進行衰減校正 B. 增大正子斷層造影儀的晶體圓環大小 C. 使用準直儀 D. 增加注射正子藥物活性劑量

官方答案

• 答案：B. 增大正子斷層造影儀的晶體圓環大小

解析

作用深度效應（depth-of-interaction、parallax）源自晶體具有一定厚度，斜入射的互毀光子可能在晶體內較深處才作用，使定位偏離真實響應線。入射角與周邊距離r及圓環半徑R有關（tanθ約為r/R），增大晶體圓環半徑可減小入射角，因而減輕作用深度效應；實務上也可採較薄、較小的晶體或雙層晶體設計。CT衰減校正、準直儀與增加注射劑量均無法改善此幾何誤差。

AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。

官方資料

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