民國110年 高考三級 電子工程 半導體工程考古題
民國110年 高考三級 電子工程 半導體工程收錄考選部官方試題,共 5 題可線上瀏覽,考選部未公告本科目答案。
題目與答案
第1題
何謂歐傑複合(Auger recombination)效應?它通常發生於何種狀況?
(10 分)
由p 型矽(Si)半導體與銅(Cu)形成蕭特基接面(Schottky junction),
假如銅的功函數(work function, q m)為4.5 eV,矽的電子親和力
(electron affinity, q Si)為4.05 eV,矽的能隙(Eg)為1.12 eV,矽的
功函數(work function, q Si)為4.9 eV。請計算此蕭特基接面的能障值
(barrier height, q B)與內建電位值(built-in potential, qVbi)。(10 分)
第2題
一般p-n 二極體的等效電路模型如下圖所示,
在順向偏壓下,請說明兩個電容C1 和C2 的來源為何?(10 分)
請說明兩個電阻RS 和RP 的來源為何?(10 分)
第3題
對一工作於主動模式(active mode)的npn 雙極性電晶體,假設基極
對射極的偏壓為VBE,基極寬度為WB,WB 遠小於電子的擴散長度,
且電子在基極的擴散係數為Dn,電子電荷為q。今電子由射極進入基
極,在射極與基極的電子濃度為np(0),在基極與集極的電子濃度為
np(WB),請寫出在基極的電子電流密度方程式。(10 分)
通常較高值的厄利電壓(Early voltage, VA)可以得到較高值的電壓增
益。如果我們以下列三種方式設計雙極性電晶體以增加厄利電壓:
增加基極寬度, 增加基極濃度, 減少集極濃度,請說明那一種方
式可以得到較高值的電流增益( )?請說明理由。(10 分)
C1
C2
RS
RP
第4題
以短通道(short channel)的金氧半場效電晶體(MOSFET)為例,請
說明短通道長度對臨界電壓的影響。(10 分)
以金氧半場效電晶體為例,請說明次臨界電流(subthreshold current)
的定義。(10 分)
第5題
和化學氣相沉積(atomic layer deposition, ALD)技術相比較,請說明
原子層沉積技術的優點與缺點。(10 分)
請解釋電遷移(electromigration)現象,並說明如何改善此現象。(10 分)