第1題
何謂接觸電阻(contact resistance)?何謂片電阻(sheet resistance)? 何謂特徵電阻(specific contact resistance)?並寫出上述三種電阻的單位。 (20 分) 請說明如何量測這三種電阻?(10 分)
民國111年 地方三等 電子工程 半導體工程收錄考選部官方試題,共 4 題可線上瀏覽,考選部未公告本科目答案。
何謂接觸電阻(contact resistance)?何謂片電阻(sheet resistance)? 何謂特徵電阻(specific contact resistance)?並寫出上述三種電阻的單位。 (20 分) 請說明如何量測這三種電阻?(10 分)
對一長度為L 且此長度兩端施加偏壓V 的n 型半導體,假設電子的擴散 長度為Ln,電子的擴散係數為Dn,電子的遷移率(mobility)為μn,電 子濃度為n,電子電荷為q。假設沿長度L 方向為x 軸方向,且電子速 度達到飽和值v。請寫出此半導體的漂移(drift)電流密度與擴散 (diffusion)電流密度方程式?(20 分)
對一npn 雙極性接面電晶體(Bipolar Junction Transistor, BJT),若基 極濃度由射極-基極接面(emitter-base junction)朝向基極-集極接面 (base-collectorjunction)逐漸減少的結構,請說明這樣可以提供什麼優點? (10 分) 對一npn 雙極性接面電晶體,通常電流增益( )是一常數,但是它在 低集極電流(IC)與高集極電流區域都會呈現減少的趨勢。請說明為 什麼會減少的原因?(10 分)
考慮一多晶矽閘極金氧半電容(polysilicon-gate MOS capacitor),在高摻 雜的閘極,其EF- EC = 0.2 eV;在一般摻雜的矽基板,其EC - EF= 0.2 eV。 假設此結構理想化, 畫出此多晶矽閘極金氧半電容在平帶(flat-band)情況下的能帶圖。(10 分) 當閘極電壓等於零(VG = 0)時,此多晶矽閘極金氧半電容是處於下 列那一種情況?聚積(accumulation)?空乏(depletion)?反轉 (inversion)?(10 分) 請說明閘氧化層和場氧化層的差異。(10 分)