第1題
一未知核種X 的衰變結構如圖（一）所示， 圖（一） 請說明此X 核種是那一種衰變（decay）並說明此衰變？此X 核種衰 變時釋出粒子的最大能量是多少keV？（15 分） 將此X 核種製成適當活度的點射源，並置於鉛屏蔽內的碘化鈉偵檢器 表面，所量測到的能譜如圖（二），請說明圖中①至⑥箭頭標示區域能 譜特徵的形成原因。（12 分） 圖（二）
民國114年 高考三級 輻射安全 輻射度量考古題
民國114年 高考三級 輻射安全 輻射度量收錄考選部官方試題，共 5 題可線上瀏覽，考選部未公告本科目答案。
官方資料
題目與答案
第2題
一表面污染偵檢器，偵測窗面積100 cm2，計測時間設定訂為10 s，此偵 檢器對β 粒子的偵測效率經校正得0.5 counts/β，其標準不確定度是 10%，以此偵檢器量測2 個月前疑似受Sr-90 均勻污染之桌面，若背景 計數值是121，量測污染桌面之計數值（未扣除背景）是196，β 射源污 染桌面的射源效率（向上射出的β 粒子數／核種產生的β 粒子數）是 0.5。若量測品質目標是將偽陽性率（false-positive probability）及偽陰性 率（false-negative probability）皆設定在不大於5%，請計算： 此表面污染偵檢器的最低可測淨計數率是多少counts/s？（10 分） 桌面Sr-90 活度量測結果及其標準不確定度是多少Bq/cm2？（15 分） 註：Sr-90 半衰期28.8 年，其子核種Y-90 半衰期2.7 天。
第3題
一薄膜射源含有Am-241（每次衰變釋出1 個α 粒子）與Cl-36（每次衰 變釋出1 個β 粒子），此兩核種自薄膜射源表面釋出的帶電粒子皆為每 秒1000 個，將此薄膜射源置入一「4π 無窗充氣式比例計數器」中，此 比例計數器對帶電粒子的偵測效率是100%且對光子不敏感。（每小題10 分，共20 分） 請繪出此射源條件下，比例計數器操作電壓曲線（以每秒計數率為縱 軸，電壓為橫軸）並說明此曲線。 若此薄膜射源對Am-241 的α 粒子的射源效率是0.5，對Cl-36 的β 粒 子的射源效率是0.8 ，且此比例計數器量測系統有非麻痺型 （nonparalyzable）無感時間10 μs，請問此薄膜射源中Am-241 及 Cl-36 的活度各為幾Bq？ 註：射源效率=（自射源表面射出的粒子數／射源內核種衰變產生的粒 子數）。
官方試題 PDF
列舉兩種氣體，可作為慢中子量測的比例計數器，並說明其工作原理。 （10 分）
第5題
一理想Cs-137 點射源，置於半徑3 cm 的半導體偵檢器正前方30 cm 處。 已知此量測條件下，偵檢器對Cs-137 的662 keV 加馬射線的固有能峰效 率（intrinsic peak efficiency）是10%。 請計算662 keV 能峰的絕對計測效率（以百分比表示，計算過程及結 果皆取到小數點下第3 位）。（10 分） 若在1000 秒的計測中，收集到的能峰面積是8500 個計數，請計算 Cs-137 射源的放射活度。（8 分） 註：662 keV 加馬射線的分支比（每次衰變射出的加馬射線數）= 0.85