民國114年 第3梯次 飛機修護乙級 學科
第22題
X 光非破壞性檢查用於
題目
X 光非破壞性檢查用於
- (1) 磁性機件外部裂紋
- (2) 金屬外表裂紋
- (3) 非磁性材料外部裂紋
- (4) 磁性及非磁性材料其內部裂紋
官方答案
(4) 磁性及非磁性材料其內部裂紋
解析
X光非破壞性檢查利用材料對X射線吸收程度的差異，使底片或感測器呈現明暗影像，可發現材料內部的裂紋、氣孔、夾渣與異物，且不受材料是否具磁性限制，因此適用於磁性及非磁性材料的內部缺陷。磁粉檢查僅適用鐵磁性材料，且主要偵測表面或近表面缺陷；液滲檢查則只能顯示表面開口的裂紋，皆無法勝任內部裂紋檢測。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。