民國100年 乙級專案 機械加工乙級 學科
第4題
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
題目
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
- (1) 外徑分厘卡
- (2) 卡式內徑分厘卡
- (3) 直桿式內徑分厘卡
- (4) 深度分厘卡
官方答案
(2) 卡式內徑分厘卡
解析
亞培（Abbe）原理要求量測軸線與刻度（測微螺桿）軸線共線，兩者一旦有偏移，偏移量會依槓桿比例放大成讀值誤差。卡式內徑分厘米的測爪與測微螺桿軸線之間存在偏移，量測時測爪受力或磨耗所產生的偏擺，會被放大為明顯的讀數誤差。外徑分厘卡、直桿式內徑分厘卡與深度分厘卡的量測方向與螺桿軸線一致，符合亞培原理，因此誤差較小。故選2。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。