民國101年 第4梯次 機械加工乙級 學科
第1題
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
題目
結構上,下列何種量具較容易產生亞培( A b b e ) 測量誤差
- (1) 深度分厘卡
- (2) 直桿式內徑分厘卡
- (3) 卡式內徑分厘卡
- (4) 外徑分厘卡
官方答案
(3) 卡式內徑分厘卡
解析
亞培原則要求量測軸線與刻度基準軸線重合於同一直線，否則兩軸線間的偏移量會依工件或測爪的偏擺而被放大成誤差。卡式內徑分厘卡的測爪與測微桿之間有橫向偏移距離，屬於槓桿式放大結構，最易產生亞培誤差。外徑分厘卡的砧面與主軸同軸、刻度沿軸線配置，直桿式內徑分厘卡與深度分厘卡的量測方向亦與測微桿同軸，皆較能符合亞培原則。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。