民國105年 第2梯次 網版製版印刷乙級 學科
第16題
膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?
題目
膜厚測試器探測針頭生銹,下述何者正確?
- (1) 細砂紙磨去鐵銹
- (2) 並不影響量測
- (3) 測試器操作時能歸零即可
- (4) 應重新更換測試針頭
官方答案
(4) 應重新更換測試針頭
解析
膜厚測試器屬高精度量測儀器，探測針頭為核心感測元件。針頭生銹會造成表面粗糙度改變、幾何尺寸異常，導致接觸面積與彈性變形量不穩，產生系統性誤差。細砂紙打磨會破壞針頭原有精密研磨公差與硬化層，歸零僅能補償零點漂移無法修正線性度與重複性誤差，唯有更換原廠針頭才能恢復量測準確度。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。