使用感應耦合電漿原子發射光譜儀進行樣品分析時，其分析結果常會受到 許多干擾因素的影響，而導致誤差的產生。常見的干擾可分為兩類，分別 為光譜性干擾及非光譜性干擾，…

題目

使用感應耦合電漿原子發射光譜儀進行樣品分析時，其分析結果常會受到 許多干擾因素的影響，而導致誤差的產生。常見的干擾可分為兩類，分別 為光譜性干擾及非光譜性干擾，請說明其發生原因及解決方式。（20 分）

參考解答（AI 生成，非官方）

• 一、干擾之分類架構：ICP-AES 之誤差來源可分光譜性干擾（spectral interference）與非光譜性干擾（non-spectral interference）。前者屬「譜線選擇性」問題，為譜線重疊或背景貢獻；後者屬「訊號強度」問題，源自樣品傳輸、霧化、原子化與游離平衡及儀器漂移。兩者成因與對策不同，須先判定類型再對症處理。
• 二、光譜性干擾之發生原因：(1) 譜線直接重疊（line coincidence），如鐵、釩、鉻、鎳等譜線彼此接近；(2) 分子帶光譜（band spectra），如 OH、NO、CN、NH 等，多來自大氣夾帶、溶劑或有機基質；(3) 連續背景與雜散光（stray light），常見於高鹽或高基質樣品；(4) 高濃度元素譜線增寬與自吸收。
• 三、光譜性干擾之解決方式：選用靈敏度足夠且無重疊之替代波長（alternate wavelength）；採用高解析度光譜儀或二維陣列檢測器；執行背景校正（off-peak 或兩點背景）及干擾元素等效濃度校正（inter-element correction, IEC）；以標準添加法或基質匹配確認；必要時以共沉澱、離子交換等前處理分離基質。
• 四、非光譜性干擾之發生原因：(1) 物理干擾：黏度、密度、表面張力、溶解固體與酸度差異，改變霧化效率與氣溶膠傳輸量；(2) 化學干擾：難解離化合物（如磷酸鈣、硫酸鈣）生成，或易游離元素（鉀、鈉、銫）改變電漿游離平衡，影響鈣、鎂、鋇等之訊號；(3) 儀器漂移：炬管積鹽、霧化器堵塞、蠕動泵脈動、電漿功率與氣流不穩。
• 五、非光譜性干擾之解決方式：採基質匹配（matrix matching），使標準品與樣品之酸度、鹽度一致；添加內標準品（internal standard，如鈧、釔、銦、銠、鉍）校正傳輸效率與訊號漂移；採標準添加法；加入消游離緩衝劑（ionization buffer，如氯化銫、硝酸鋰）；定期清洗炬管與霧化器、執行檢量線查核與連續校正；高鹽樣品可稀釋或改用超音波霧化器。

AI 依官方試題文字產生的參考解答，非考選部公告答案，內容僅供備考參考。

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