下列何種方法最適合測量50 nm大小之顆粒？

題目

下列何種方法最適合測量50 nm大小之顆粒？ A. optical microscopy B. electron microscopy C. sedimentation D. sieve analysis

官方答案

• 答案：B. electron microscopy

解析

粒徑 50 nm 已小於可見光波長，受繞射極限影響，光學顯微鏡的解析度約僅 0.2 μm（200 nm），無法清楚分辨 50 nm 顆粒。電子顯微鏡以電子束成像，解析度可達奈米甚至更小，適合觀察 50 nm 粒子。沉降法通常用於約 1～100 μm 的懸浮顆粒，篩分析法則適用於較大顆粒（約 45 μm 以上），故選 B。

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官方資料

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