民國111年 普通考試 圖書資訊管理 圖書資訊學概要
第8題
下列何項分類架構經常用來同時描述兩個特質，分別以兩個選定的特質為軸，交叉繪製成列聯表？
題目
下列何項分類架構經常用來同時描述兩個特質，分別以兩個選定的特質為軸，交叉繪製成列聯表？ A. 階層式分類架構 B. 樹狀分類架構 C. 矩陣式分類架構 D. 層面分析式分類架構
官方答案
- 答案：C. 矩陣式分類架構
解析
矩陣式分類架構選定兩個特質作為橫軸與縱軸，交叉形成列聯表，使文獻能同時依兩個面向定位，便於分析兩者關係。階層式與樹狀架構主要依單一原則上下展開；層面分析式則容許多個獨立層面組合，並非固定以兩個特質交叉製表。因此答案是C。
AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。
官方資料
答案以考選部公告之測驗式試題標準答案 PDF 為準。