平面位置之微變測量應使用

題目

平面位置之微變測量應使用

(1) 電子光波經緯儀

微變測量要偵測平面位置上極小的位移，必須有高精度的測角與測距能力，並能重複觀測、組成精密控制網。電子光波經緯儀結合電子經緯儀與光波測距，精度高且可同時取得角度與距離，適合此類工作。羅盤儀只能測磁方位、精度低；平板儀偏向圖解測繪；天文觀測儀主要用於天文定位與方位測定，均不適合平面微變測量。

AI 參考解析（推得答案已與官方答案比對一致），非官方公告內容，僅供備考參考。