民國115年 普通考試 測量製圖 誤差理論概要
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題目
請說明測量平差計算的目的,以及平差計算的一般流程。(25 分)
參考解答(AI 生成,非官方)
- 一、目的在消除矛盾並求最或是值:同一量重複觀測或幾何條件(如三角形內角和180°)常產生閉合差,平差即依最小二乘原理分配閉合差,使觀測量同時滿足函數條件,求得未知參數的最或是值(most probable value),使加權殘差平方和 Σpv² 為最小。
- 二、精度評估:平差同時產生殘差 v、單位權中誤差 σ0 與協變方矩陣(covariance matrix),可據以推算未知數及任何推估量的標準差、誤差橢圓(error ellipse),作為成果品質判定、取捨與後續網形設計之依據。
- 三、粗差偵測:藉殘差大小、資料探測(data snooping)與 Baarda w-test 等統計檢定,可找出並剔除粗差(gross error),避免錯誤污染成果,並回饋野外作業與儀器狀態之管制。
- 四、流程第一步—建立模式:蒐集觀測量、權與精度資訊,確認觀測量間之幾何或物理條件,選定未知參數,列出觀測方程式(observation equations)或條件方程式(condition equations);非線性者先以泰勒展開線性化並給定初值。
- 五、流程第二步—組法方程式求解:以 v = Aδ − l 形式組成法方程式(normal equations)N = AᵀPA、u = AᵀPl,解得 δ = N⁻¹u,更新參數並迭代至收斂,再計算殘差、σ0 及協變方矩陣 N⁻¹。
- 六、流程第三步—檢核與輸出:檢核殘差分佈是否合理、σ0 與先驗精度是否相符、有無粗差;未通過者剔除或重測後重算。通過後輸出最或是值、精度指標與平差報告,並歸檔以備稽核。
AI 依官方試題文字產生的參考解答,非考選部公告答案,內容僅供備考參考。